光學鏈路診斷儀的原理基于光頻域反射技術，單次測量可實現(xiàn)從器件到鏈路的全范圍診斷。OCI可輕松查找并判別光纖鏈路中的宏彎、連接點和斷點，并精確測量回損、插損、光譜等參數(shù)，其事件點定位精度高達0.1mm。OCI不僅可用于光學鏈路診斷，還可拓展分布式光纖傳感功能，實現(xiàn)應變和溫度高分辨測量。
 

　　當我們在使用光頻域反射(OFDR)技術檢測光鏈路，不僅能獲得高空間分辨率的回波強度曲線，而且利用背向散射法測損耗可得到鏈路的沿線損耗情況及各個器件點的損耗。當光鏈路中有兩路以上的分支時，各個分支的瑞利散射信號會混疊到一起，此時使用背向散射法就不能測試出各個分支光鏈路損耗情況。
 

　　背向散射法測損耗：
 

　　背向散射法是zhi定被測件DUT前一點的光功率作為測量回損(RL)的入射光功率，進而獲得RL值。時域曲線包含光纖沿線損耗分布，插損值可通過DUT前后回損值計算得到，公式為：IL=(RL?-RL?)/2。以測量一根光纖跳線為例，在中間位置彎曲，測量結果如下：光頻域反射技術(OFDR)可通過背向散射法測量整段光纖的回損曲線，利用回損和插損之間的關系可以得到整條曲線各個點的損耗。
 

　　光頻域反射技術(OFDR)可通過背向散射法測量整段光纖的回損曲線，利用回損和插損之間的關系可以得到整條曲線各個點的損耗。
 

　　產(chǎn)品特點：
 

　　1、超高采樣分辨率和定位精度
 

　　2、超寬動態(tài)范圍
 

　　3、可定制引纖長度，便于匹配實際測量環(huán)境
 

　　4、可定制掃描測量長度
 

　　5、支持多通道測量升級
 

　　主要應用：
 

　　1、光纖微裂紋檢測
 

　　2、硅光芯片、PLC波導瑕疵損耗檢測
 

　　3、FA光纖陣列鏈路性能檢測
 

　　4、光器件、光模塊內(nèi)部耦合點、連接點性能檢測