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高光譜顯微系統(tǒng)IMA提供同樣高的光譜和空間分辨率。將這個(gè)模塊化系統(tǒng)配置為快速掃描VIS、NIR和/或SWIR光譜，同時(shí)繪制光致發(fā)光、電致發(fā)光、熒光、反射率和/或透射率的組合。每個(gè)IMA™都配備了高通量的全局成像濾光片；這使它能夠比依賴掃描光譜的高光譜系統(tǒng)更快地測量百萬像素超立方體。

GEMINI-X干涉儀高光譜成像模塊是GEMINI干涉儀的高通光孔徑升級版，專為顯微鏡下的高光譜成像設(shè)計(jì)。憑借20mm通光孔徑，GEMINI X可與大面積二維傳感器無縫耦合，兼容任何顯微鏡攝像頭接口。支持多種成像模式，包括：透射成像、反射成像以及光致發(fā)光與電致發(fā)光（PL&EL）高光譜成像。

高抑制BIPD布里淵光譜濾光器采用共軸光路和超緊湊結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，可以在自發(fā)布里淵顯微鏡或受激布里淵顯微鏡等標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)裝置中靈活應(yīng)用。值得注意的是，BIPD濾光器可以在幾分之一秒內(nèi)調(diào)諧到任何所需的激光頻率，并可在寬光譜的可見光和近紅外波長范圍內(nèi)工作。超高的背景光抑制能力和堅(jiān)固的設(shè)計(jì)特點(diǎn)使 BIPD濾光器成為即使在極其渾濁的樣品中也能進(jìn)行布里淵光譜分析的理想選擇。

-使用 Luminosa、MicroTime 200 和 LSM 升級套件進(jìn)行成像分析 -基于GPU加速算法快速分析 FLIM、FLIM-FRET 和各向異性數(shù)據(jù) -對z-stacks、延時(shí)序列和拼接圖像進(jìn)行高效批量分析 -先進(jìn)、靈活的ROI處理 熒光壽命成像分析軟件NovaFLIM

快速掃描VIS-NIR-SWIR-MIR光譜儀是一款緊湊型、快速掃描的光譜儀。它采用基于時(shí)域傅立葉變換檢測的技術(shù)，可以極其精確地監(jiān)測光源的發(fā)射光譜，并測量吸收、透射或反射光譜。