在數(shù)據(jù)中心高速互聯(lián)、高性能計算及新一代傳感網(wǎng)絡飛速發(fā)展的今天，市場對工作在850nm短波窗口的多模光纖鏈路及光電器件的性能提出了高要求。傳統(tǒng)的測試手段在應對此類器件的插損、回損一體化測試以及長距離、分布式故障診斷時，往往面臨精度不足、效率低下或波段不匹配等挑戰(zhàn)。為精準破解這一行業(yè)痛點，F(xiàn)LA系列光纖鏈路分析儀正式宣布拓展其核心能力版圖，新增專為850nm波段優(yōu)化的高性能測量模塊。此次升級旨在為從常規(guī)多模光纜、高速光模塊到前沿的芯片級光互連樣品，提供一套集高精度、高效率與全面性于一身的一站式檢測解決方案。它不僅能夠滿足光器件生產(chǎn)線的苛刻品控需求，更能為研發(fā)階段的性能驗證與失效分析提供強大的數(shù)據(jù)支撐，從而在整個產(chǎn)業(yè)鏈的各個環(huán)節(jié)，助力用戶提升產(chǎn)品可靠性、加速創(chuàng)新迭代，從容應對日益嚴峻的技術(shù)挑戰(zhàn)。

FLA系列光纖鏈路分析儀

核心性能參數(shù)（850nm波段）

· 測量長度：500m

· 空間分辨率：2mm

· 中心波長：850nm

· 回損動態(tài)范圍：70dB

· 回損重復精度：±0.5dB

· 插損動態(tài)范圍：15dB

· 插損重復精度：±0.2dB

· 單次測量時間：＜15s

（注：支持定制200微米空間分辨率，測量長度50米，歡迎垂詢。）

多元應用場景，覆蓋產(chǎn)業(yè)全環(huán)節(jié)

·  光器件精準測試：可對500米內(nèi)的850nm光器件進行精確的長度定位以及插損、回損一體化測試，為器件性能評估提供可靠數(shù)據(jù)。

·  分布式鏈路診斷與失效分析：能夠?qū)φ麠l850nm多模光纖鏈路進行分布式測量，快速定位并分析連接點、斷裂點、彎曲損耗等故障或性能劣化點。

·  全面支持多模光纖：支持850nm窗口的多模光纖測量，確保結(jié)果的準確性與可靠性。

·  芯片級高精度定制方案：針對前沿科研與精密制造可提供50米內(nèi)200微米超高空間分辨率的定制型號，專攻850nm波段芯片級樣品的精密測量。

FLA系列光纖鏈路分析儀通過本次850nm波段拓展，實現(xiàn)了從常規(guī)到特殊光纖鏈路測試需求的全覆蓋。無論在通信工程、光器件生產(chǎn)制造，還是科研領(lǐng)域的高精度檢測中，均能提供穩(wěn)定、精準且高效的測量支持，持續(xù)為用戶創(chuàng)造更高檢測價值。