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高抑制BIPD布里淵光譜濾光器采用共軸光路和超緊湊結(jié)構(gòu)設計，可以在自發(fā)布里淵顯微鏡或受激布里淵顯微鏡等標準光學裝置中靈活應用。值得注意的是，BIPD濾光器可以在幾分之一秒內(nèi)調(diào)諧到任何所需的激光頻率，并可在寬光譜的可見光和近紅外波長范圍內(nèi)工作。超高的背景光抑制能力和堅固的設計特點使 BIPD濾光器成為即使在極其渾濁的樣品中也能進行布里淵光譜分析的理想選擇。

OCT光譜儀成像需要使用更長的波長才能在單次掃描中探測到大于幾毫米的深度，但這帶來了與NIR探測器相關的高成本問題。為此，Wasatch Photonics 開發(fā)了一種創(chuàng)新的光譜儀設計，使我們能夠使用800 nm OCT實現(xiàn)高達12 mm的成像深度，這為在更寬的深度范圍內(nèi)進行經(jīng)濟高效的特征測量開辟了新的可能性。受益于這種遠程成像的應用領域包括眼科、醫(yī)學，以及增材打印和激光加工的無損過程監(jiān)測。

-使用 Luminosa、MicroTime 200 和 LSM 升級套件進行成像分析 -基于GPU加速算法快速分析 FLIM、FLIM-FRET 和各向異性數(shù)據(jù) -對z-stacks、延時序列和拼接圖像進行高效批量分析 -先進、靈活的ROI處理 熒光壽命成像分析軟件NovaFLIM

快速掃描VIS-NIR-SWIR-MIR光譜儀是一款緊湊型、快速掃描的光譜儀。它采用基于時域傅立葉變換檢測的技術，可以極其精確地監(jiān)測光源的發(fā)射光譜，并測量吸收、透射或反射光譜。

緊湊型正置寬場光致發(fā)光顯微鏡在許多情況下，要對半導體或太陽能電池等材料進行表征，需要以空間分辨率測量它們在各個點的光物理特性。根據(jù)樣品的不同，除了在不同點進行測量外，在大面積樣品區(qū)域進行掃描通常也很有意義。FluoMic 提供了一種快速、簡便、可靠的方法來測量穩(wěn)態(tài)（從紫外到近紅外）和時間分辨（從 ps 到 ms）發(fā)光，空間分辨率低至2 μm。